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X射線衍射儀 Ultima IV係列組合式多功能

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所屬分類:X射線衍射儀
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組合式多功能X射線衍射儀Ultima IV係列是一種高性能多功能的粉晶X射線衍射儀,它采用了理學*的CBO交叉光學係統,一台儀器可以進行從普通粉末樣品到包括In-Plane在內的薄膜樣品測試。采用組合式結構,通過對各個單元的不同組合,可以進行各種測試。

X射線衍射儀 Ultima IV係列組合式多功能的詳細資料:



一、儀器簡介

組合式多功能X射線衍射儀Ultima IV係列是一種高性能多功能的粉晶X射線衍射儀,它采用了理學*的CBO交叉光學係統,一台儀器可以進行從普通粉末樣品到包括In-Plane在內的薄膜樣品測試。采用組合式結構,通過對各個單元的不同組合,可以進行各種測試。

 

二、技術參數

1. X射線發生器功率為3KW

2. 測角儀為水平測角儀

3. 測角儀zui小步進為1/10000

4. 測角儀配程序式可變狹縫

5. 高反射效率的石墨單色器

6. CBO交叉光路,提供聚焦光路及高強度高分辨平行光路(帶Mirror)(理學獨有)

7. 小角散射測試組件

8. 多用途薄膜測試組件

9. 微區測試組件

10. In-Plane測試組件(理學獨有)

11. 高速探測器D/teX-Ultra

12. X射線衍射-差示掃描量熱儀同時測量裝置 XRD-DSC

13. 分析軟件包括:XRD分析軟件包、NANO-Solver軟件包、GXRR軟件包等

 

三、主要特點

組合式多功能X射線衍射儀Ultima IV係列,可以廣泛應用於各種材料結構分析的各個領域。

可以分析的材料包括:金屬材料、無機材料、複合材料、有機材料、納米材料、超導材料。

可以分析的材料狀態包括:粉末樣品、塊狀樣品、薄膜樣品、微區微量樣品

       主要的應用有:

1. 粉末樣品的物相定性與定量分析

2. 計算結晶化度、晶粒大小

3. 確定晶係、晶粒大小與畸變

4. Rietveld結構分析

5. 薄膜樣品分析,包括薄膜物相、多層膜厚度、表麵粗糙度,電荷密度

6. In-Plane裝置可以同時測量樣品垂直方向的結構及樣品深度方向的結構

7. 小角散射與納米材料粒徑分布

8. 微區樣品的分析

 

 


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