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微區取樣儀 MicroSupport

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所屬分類:紅外光譜儀/微區取樣儀
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微區取樣儀是微區分析強有力的輔助手段,在顯微紅外、顯微拉曼、XRD、SEM和TEM檢測中,經常會遇到微小待測物被覆蓋、包埋、粘連等問題,有時候待測位置難以采集信號必須將待測物取出,還有時會因為待測物尺寸小於儀器檢測極限帶來許多難題,而微區取樣儀可以幫助用戶輕鬆解決。

微區取樣儀 MicroSupport的詳細資料:



一、 品牌型號:日本MicroSupport Axis Pro係列

二、 儀器簡介:

 

微區取樣儀是微區分析強有力的輔助手段,在顯微紅外、顯微拉曼、XRD、SEM和TEM檢測中,經常會遇到微小待測物被覆蓋、包埋、粘連等問題,有時候待測位置難以采集信號必須將待測物取出,還有時會因為待測物尺寸小於儀器檢測極限帶來許多難題,而微區取樣儀可以幫助用戶輕鬆解決。高精度的微區取樣儀通過鼠標控製,全自動、多角度、高效率的將微小待測物取出或暴露出來,便於用戶進行下一步的儀器分析,該設備在微小樣品分析、異物分析、多層複合材料分析、及FIB製樣輔助領域均有廣泛應用,尤其在顯示材料行業的質量控製和產品研發中起到重要作用。
 

產品概覽:

1. 功能全麵

日本MicroSupport微區取樣儀可配套多種精密微工具對微米級的待測物進行相應處理,例如微探針可用於挑取表麵上或微孔中的待測物、超聲波銑削工具可去除待測物表麵的覆蓋層、微鑷子可夾取膠黏劑中的待測物、收集器可富集小於1μm的待測物、微切刀和真空吸取工具等可切取複合材料其中一層的待測物,甚至是給待測樣品做標記、將FIB製備的樣品快速旋轉放置等處理,都可以在相應的工具輔助下輕鬆完成,為後續檢測分析創造了條件。


 

2. 配置靈活
MicroSupport微區取樣儀為模塊化設計,可根據實際應用需求靈活選擇配置方案,後續增加任何附件也十分便利,沒有任何後顧之憂。

 


3. 部件豐富
MicroSupport微區取樣儀擁有豐富的取樣和製樣工具可供選擇,各種材質、各種外形、各種尺寸、各種功能,,可*無死角地解決微區分析中找樣難、取樣難、測樣難等問題。

 





 


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